熔接時(shí)測得損耗正常,但(dàn)用OTDR測試時(shí)出現(xiàn)衰減台階

這(zhè)種情況多是光(guāng)纖固定不規範所緻、常見原因是光(guāng)纜接續盒偏小(xiǎo)或其兩邊固定光(guāng)纜的(de)位置太短 、 導緻卡環部分壓力施加在松套管上(shàng) 、 壓住光(guāng)纖 、 OTDR測試時(shí)在接頭盒兩邊形成台階 、 熔接時(shí)光(guāng)纖餘長(cháng)不一緻 、 較長(cháng)的(de)光(guāng)纖固定不好(hǎo)彈起後 、 可能被防水(shuǐ)膠壓住 、 光(guāng)纖彎曲半徑小(xiǎo)于正常值 、 出現(xiàn)直徑小(xiǎo)于2cm的(de)小(xiǎo)圈或拐直彎的(de)現(xiàn)象。