接續出現(xiàn)負損耗?

是指測試曲線上(shàng)出現(xiàn)向上(shàng)的(de)台階(正常的(de)損耗是向下(xià)的(de)台階)、常發生(shēng)在用模場(chǎng)直徑大的(de)光(guāng)纖接續模場(chǎng)直徑小(xiǎo)的(de)光(guāng)纖的(de)情況 、 此時(shí)是因為(wèi)模場(chǎng)直徑小(xiǎo)的(de)光(guāng)纖引導反向散射光(guāng)的(de)能力比模場(chǎng)直徑大的(de)光(guāng)纖強所緻 、 從(cóng)理(lǐ)論上(shàng)講 、 它不應算(suàn)是真正的(de)熔接損耗 、 應采取雙向測試平均法來(lái)計(jì)算(suàn)熔接點的(de)真正損耗。